Изображающий спектрометр на основе дискретного интерференционного фильтра
Скиданов Р.В., Морозов А.А., Порфирьев А.П., Бланк В.А.

Институт систем обработки изображений РАН, Самара, Россия,
Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королёва
(национальный исследовательский университет) (СГАУ), Самара, Россия

Аннотация:
Рассмотрены свойства спектрального фильтра Edmund Optics (400 – 700 нм). Показано, что функция пропускания фильтра далека от идеальной формы, которую приводит производитель. Рассмотрен спектрометр на основе этого фильтра, показано, что, несмотря на не слишком хорошую функцию спектрального пропускания фильтра, удаётся добиться ошибки формирования спектра не более 13 %.

Ключевые слова :
изображающий спектрометр, спектральный фильтр, перестраиваемый лазер.

Цитирование:
Скиданов, Р.В. Изображающий спектрометр на основе дискретного интерференционного  фильтра / Р.В. Скиданов, А.А. Морозов, А.П. Порфирьев, В.А. Бланк // Компьютерная оптика. – 2015. – Т. 39, № 5. – С. 716-720. – DOI: 10.18287/0134-2452-2015-39-5-716-720.

Литература:

  1. Воропай, Е.С. Дисперсионный гиперспектрометр с реконфигурируемой входной апертурой на основе микрозеркальной матрицы / Е.С. Воропай, И.М. Гулис, А.Г. Ку­преев [и др.] // Вестник БГУ. – 2009. – Сер. 1, № 3. – С. 31-35. – ISSN 0321-0367.
  2. Tack, N. A compact, high-speed, and low-cost hyperspectral imager / N. Tack, A. Lambrechts, S. Soussan, L. Haspeslagh // Proceeding of SPIE. – 2012. – Vol. 8266. – P. 82660Q1-13.
  3. Geelen, B. A snapshot multispectral imager with integrated, tiled filters and optical duplication / B. Geelen, N. Tack, A. Lambrechts // Proceeding of SPIE. – 2013. – Vol. 8613. – P. 861314-1-13.
  4. Spectral camera pfd [Electronical Resource]. – URL: http://www.specim.fi/files/pdf/core/datasheets/PFD%20Spectral%20Camera-v3-11.pdf. - 2015.
  5. Gat, N. Imaging Spectroscopy Using Tunable Filters: A Review / N. Gat // Proceeding of SPIE. – 2000. – Vol. 4056. – P. 50-64.
  6. Correia, J.H. High-selectivity single-chip spectrometer in silicon for operation in visible part of the spectrum / J.H. Correia, M. Bartek, R.F. Wolffenbuttel // IEEE Transactions on Electron Devices. – 2000. – Vol. 47(3). – P. 553-559.
  7. Jayapala, M. Monolithic integration of flexible spectral filters with CMOS image sensors at wafer level for low cost hyperspectral imaging / M. Jayapala, A. Lambrechts, N. Tack, B. Geelen, B. Masschelein [Electronical Resource]. – 2013. – URL: http://www.imagesensors.org/Past%20%Workshops/2013%20Workshop/2013%20Papers/07-02_053jayapala.pdf. - 2015.
  8. Казанский, Н.Л. Моделирование гиперспектрометра на спектральных фильтрах с линейно-изменяющимися параметрами / Н.Л. Казанский, С.И. Харитонов, С.Н. Хо­нина, С.Г. Волотовский, Ю.С. Стрелков // Компьютерная оптика. – 2014. – Т. 38, № 2. – С. 256-270.
  9. Скиданов, Р.В. Исследование изображающего спектрометра на основе дифракционной линзы / Р.В. Скиданов, В.А. Бланк, А.А. Морозов // Компьютерная оптика. – 2015. – Т. 39, № 2. – С. 218-223. – ISSN 0134-2452.
  10. Nansen, C. Using hyperspectral imaging to determine germination of native Australian plant seeds / C Nansen, G. Zhao, N. Dakin, C. Zhao, S.R. Turner //J. Photochem. & Photobio. B. - 2015/ -Vol. 145(19).- P. 15173-15180.

© 2009, IPSI RAS
Institution of Russian Academy of Sciences, Image Processing Systems Institute of RAS, Russia, 443001, Samara, Molodogvardeyskaya Street 151; E-mail: ko@smr.ru; Phones: +7 (846) 332-56-22, Fax: +7 (846) 332-56-20